测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
82mm光栅尺解析度
0.1um测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
82mm光栅尺解析度
0.1um测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
82mm光栅尺解析度
0.1um测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
82mm光栅尺解析度
0.1um测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
90mm光栅尺解析度
0.5um测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
90mm光栅尺解析度
0.5um测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
90mm光栅尺解析度
0.5um测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
90mm光栅尺解析度
0.5um测量精度
2.5+L/100重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
90mm光栅尺解析度
0.5um测量精度
2.5+L/100重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
90mm光栅尺解析度
0.5um测量精度
2.5+L/100重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
90mm光栅尺解析度
0.5um测量精度
2.5+L/100重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
90mm光栅尺解析度
0.5um测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
25.2~158.4X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
90mm光栅尺解析度
0.1um测量精度
重复精度
总放大倍率
物方视场
工作距离
光栅尺解析度
新闻资讯
News时间:04-16 2024 来自:祥宇精密
一、设备原理
影像测量仪是一种基于数字图像处理技术的测量设备,通过高精度光学镜头和CCD摄像机捕捉被测物体的图像,然后利用数字图像处理技术对图像进行分析,从而获得被测物体的几何尺寸、形状和位置等信息。
三坐标测量仪,又称三次元测量仪,是一种基于空间坐标系的测量设备。它通过测头系统与被测物体表面接触,获取被测点的空间坐标值,然后通过计算处理获得被测物体的尺寸、形状和位置等信息。
二、应用领域
影像测量仪主要应用于二维平面尺寸的测量,适用于机械、电子、光电、航空、航天等领域的产品设计、质量控制和生产管理等方面。例如,印刷电路板、集成电路芯片、液晶面板、机械零件等的尺寸测量和轮廓检测。
三坐标测量仪则主要应用于三维空间尺寸的测量,适用于汽车、模具、家电、航空航天等领域的产品设计、质量控制和生产管理等方面。例如,发动机缸体、变速器壳体、汽车内外饰件、模具型腔、飞机结构件等的尺寸测量和形状检测。
三、测量方法
影像测量仪采用非接触式测量方法,通过图像分析技术识别被测物体的特征点,然后计算这些特征点之间的距离、角度等几何关系。这种方法对被测物体无损伤,但受到图像质量和特征点识别算法的限制,可能存在一定的测量误差。
三坐标测量仪采用接触式测量方法,通过测头系统与被测物体表面接触,获取被测点的坐标值。这种方法可以获得较高的测量精度,但对被测物体可能存在一定的损伤,且测头系统的设计和制造难度较大,设备成本较高。
四、精度和速度
影像测量仪的测量精度受到镜头放大倍率、CCD像素、测量软件算法等多种因素的影响,一般可达到微米级别。测量速度较快,适合批量测量和在线检测。
三坐标测量仪的测量精度受到测头系统、导轨系统、控制系统等多种因素的影响,一般可达到微米甚至纳米级别。测量速度相对较慢,适合对精度要求较高的测量任务。
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